芯片老煉試驗中老煉座的選型要求

芯片出廠前的老煉試驗是一項必不可少的程序，其中，為芯片選擇相匹配的老煉測試座也是工程師們較為頭痛的一項工作。那么，老煉測試座該如何進行選型，需要知道哪些重要因素呢。
首先，在選擇老化座時，我們需要找到一家靠譜的芯片老化座供應商。在對針芯片的老化socket研發，生產方面有著豐富的經驗。并且能夠針對非標型芯片老煉座的一件定制，針對標準間距的產品如0.5mm、0.8mm、1.0mm，可使用公司的開模彈片式結構，20*20mm 尺寸以下的芯片，我們會采用開模結構外形的測試座，全方位為客戶降低成本。
接下來，我們需要將要做老煉試驗芯片的詳細尺寸參數圖紙以及老煉的具體溫度、時長等要求提供給老化座廠家，讓其幫助選擇合適的老煉座。
通常情況下，老煉座需要具備以下的基本參數。可供各位參考。
功能以及用途：用于芯片長時間高溫持續老煉試驗；
絕緣阻抗:一般為DC500V時，大于等于1000mΩ
耐電壓：700V AC for 1分鐘
接觸阻抗：最大為50mΩ
使用溫度：一般為-55℃-125℃，
最大電流：2A
接觸方式：壓接，
壽命：15000次（機械測試）
測試座結構：下壓/翻蓋結構測試座，具有緊湊的設計和較小的測試壓力。
根據以上基本參數，再結合自家公司對芯片老煉試驗的要求。就可以向老化socket廠商提出對socket的定制要求了。